靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.2
文章出處：環(huán)測威 人氣：1658發(fā)表時間：2021-01-06
靜電放電抗擾度試驗最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)充有電荷的物體靠近或接觸一個導(dǎo)體時，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電）。無處不在的影響著電子產(chǎn)品，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平.才能保證電子的安全使用。電子靜電抗擾度測試根據(jù)ISO10605 GB/T19951-2005執(zhí)行一般常說的靜電放電測試是指IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。靜電放電的實驗主要模擬的人體帶電直接接觸被試物品，所進(jìn)行的放電。
靜電放電抗擾度試驗最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)充有電荷的物體靠近或接觸一個導(dǎo)體時，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電）。無處不在的影響著電子產(chǎn)品，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平.才能保證電子的安全使用。電子靜電抗擾度測試根據(jù)ISO10605 GB/T19951-2005執(zhí)行一般常說的靜電放電測試是指IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。靜電放電的實驗主要模擬的人體帶電直接接觸被試物品，所進(jìn)行的放電。
1.1 靜電放電的起因：
靜電放電的起因有多種，但GB/T17626.2-2006主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使人體積累了電荷。當(dāng)帶有電荷的人與設(shè)備接觸時，就可能產(chǎn)生靜電放電。靜電放電抗擾度試驗最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)充有電荷的物體靠近或接觸一個導(dǎo)體時，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電）。無處不在的影響著電子產(chǎn)品，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平.才能保證電子的安全使用。電子靜電抗擾度測試根據(jù)ISO10605 GB/T19951-2005執(zhí)行一般常說的靜電放電測試是指IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。靜電放電的實驗主要模擬的人體帶電直接接觸被試物品，所進(jìn)行的放電。
1.1 靜電放電的起因：
1.2 試驗?zāi)康模?/strong>
試驗單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：
（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電。
（2）人或物體對鄰近物體的放電。
試驗單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：
（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電。
（2）人或物體對鄰近物體的放電。
靜電放電可能產(chǎn)生的如下后果：
（1）直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。
（2）放電所引起的電場與磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。
（1）直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。
（2）放電所引起的電場與磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。
1.3 放電方式 ：
直接放電（直接對設(shè)備的放電）：接觸放電為形式；只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層，計算機(jī)鍵盤縫隙等情況）才改用氣隙放電。
間接放電：水平耦合，垂直耦合
1.4靜電放電發(fā)生器原理圖及波形參數(shù)：
注：圖中省略的Cd是存在于發(fā)生器與受試設(shè)備，接地參考平面以及偶合板之間的分布電容，由于此電容分布在整個發(fā)生器上，因此，在該回路中不可能標(biāo)明。
靜電放電發(fā)生器簡圖
波形參數(shù)
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等級
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指示電壓/kV
|
放電的個峰值電流/A(±10﹪)
|
放電開關(guān)操作時的上升時間tr/ns
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在30ns時的電流/A(±30﹪)
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在60ns時的電流/A(±30﹪)
|
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1
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2
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7.5
|
0.7～1
|
4
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2
|
|
2
|
4
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15
|
0.7～1
|
8
|
4
|
|
3
|
6
|
22.5
|
0.7～1
|
12
|
6
|
|
4
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8
|
30
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0.7～1
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16
|
8
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1.5 試驗的嚴(yán)酷度等級：
|
1a接觸放電
|
1b空氣放電
|
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|
等級
|
試驗電壓/kV
|
等級
|
試驗電壓/kV
|
|
1
2
3
4
X1）
|
2
4
6
8
特殊
|
1
2
3
4
X1）
|
2
4
8
15
特殊
|
|
1）“X”是開放等級，該等級必須在專用設(shè)備的規(guī)范中加以規(guī)定，如果規(guī)定了高于表格中的電壓，則可能需要專用的試驗設(shè)備。
|
|||
1.6 試驗方法：
有型式試驗（在實驗室進(jìn)行）及安裝現(xiàn)場試驗兩種，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定以前者為主。 試驗中一般以1次/秒的速率進(jìn)行放電，以便讓設(shè)備對試驗未來得及響應(yīng)另外正式試驗前要用20次/秒的放電速率，對被試設(shè)備表面很快掃視一遍，目的找出設(shè)備對靜電放電敏感的部位。試驗電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。
靜電放電用在平時可以用觸摸到的點上。試驗采用：
1）單次放電。2）在選定點與地之間進(jìn)行放電。3）每個點上至少放電10次（正或負(fù)極性）。4）相鄰兩次放電之間至少間隔1秒在選擇放電點的時候，則用每秒20次的放電速度進(jìn)行，著力于尋找可能靜電放電敏感的點。 對于鄰近物體間的放電，可通過對接地板和試品附近（相距250px）的金屬板（1250px×1250px）放電來模擬。
1.7 實驗室試驗的配置及氣候環(huán)境：
實驗室的地面應(yīng)設(shè)置接地參考平面，它應(yīng)是一種最小厚度為0.25mm的銅或鋁的金屬薄板，其他金屬材料雖可使用它們至少有0.65mm的厚度。接地參考面的最小尺寸1m²，實際的尺寸取決于受試設(shè)備的尺寸，而且每邊至少應(yīng)伸出受試設(shè)備或耦合板之外0.5m，并將它與保護(hù)接地系統(tǒng)相連。受試設(shè)備與實驗室墻壁和其他金屬性結(jié)構(gòu)之間的距離最小1m。
規(guī)定有耦合板的地方，例如允許采用間接放電的地方，這些耦合板采用和接地參考面相同的金屬和厚度，而且每斷帶有一個470kΩ電阻的電纜與接地參考平面連接，當(dāng)電纜置于接地參考平面上時，這些電阻器應(yīng)耐受住放電電壓且具有良好的絕緣，以避免對接地參考平面的短路，也可以防止靜電電荷的積累。
氣候條件：在空氣放電試驗的情況下，氣候條件應(yīng)在下述范圍內(nèi)：
環(huán)境溫度：15°c～35°c 相對濕度：30%～60% 大氣壓力：86kPa～106kPa
1.8 對受試設(shè)備直接施加的放電：
除非在通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)中有其他規(guī)定，靜電放電只施加在正常使用時人員可解除的受試設(shè)備上的點和面。以下是例外的情況（即放電不施加在下述點）：
a) 維修時才接觸得到的點和表面。這種情況下，特定的靜電放電簡化方法應(yīng)在文件中注明。
b) 最終用戶保養(yǎng)時接觸到的點和表面，這些極少接觸到的點，如換電池時接觸到的電池、錄音電話中的磁帶等。
c) 設(shè)備安裝固定后或按使用說明使用后不再能接觸到的點和面，例如：底部和設(shè)備的靠墻面或安裝端子后的地方。
d) 外殼為金屬的同軸連接器和多芯連接器可接觸到的點。該情況下，僅對連接器的外殼施加接觸放電。非導(dǎo)電的（如塑料）連接器內(nèi)可接觸到的點，應(yīng)只進(jìn)行空氣放電試驗。
為確定故障的臨界點，試驗電壓應(yīng)從最小值到選定的試驗電壓值逐漸增加，最后的試驗值不應(yīng)超過產(chǎn)品的規(guī)范值，以避免損壞設(shè)備。
試驗應(yīng)以單次放電的方式進(jìn)行，在預(yù)選點上，至少施加十次單次放電（最敏感的極性）。
連續(xù)單次放電之間的時間間隔建議至少1s,但為了確定系統(tǒng)是否發(fā)生故障，可能需要較長的時間間隔。注：放電點通過以20次/s或以上放電重復(fù)率來進(jìn)行試探的方法加以選擇。
靜電放電發(fā)生器應(yīng)保持與實施放電的表面垂直，以改善試驗結(jié)果的可重復(fù)性。
在實施放電的時候，發(fā)生器的放電回路電纜與受試設(shè)備的距離至少應(yīng)保持0.2m。
在接觸放電的情況下，放電電極的頂端應(yīng)在操作放電開關(guān)之前接觸受式設(shè)備。
對于表面涂漆的情況，應(yīng)采用以下的操作程序：
如設(shè)備制造廠家未說明涂膜為絕緣層，則發(fā)生器的電極頭應(yīng)穿入漆膜，以便與導(dǎo)電層接觸，如廠家指明是絕緣層，則應(yīng)只進(jìn)行空氣放電，這類表面不應(yīng)進(jìn)行接觸放電試驗。
在空氣放電的情況下，放電電極的圓形放點頭應(yīng)盡可能快地接近并觸及受試設(shè)備（不要造成機(jī)械損壞）。每次放電之后，應(yīng)將放電電極從受試設(shè)備移開，然后重新觸發(fā)發(fā)生器，進(jìn)行新的單次放電，這個程序應(yīng)當(dāng)重復(fù)至放電完成為止。
1.9 不接地設(shè)備的試驗方法：
不接地設(shè)備或設(shè)備的不接地部件不能如I類供電設(shè)備自行放電。若在下一個靜電放電脈沖施加前電荷未消除，受試設(shè)備或受試設(shè)備的部件上的電荷累積可能使電壓為預(yù)期試驗電壓的兩倍。因此，雙重絕緣設(shè)備的絕緣體電容經(jīng)過幾次靜電放電累積，可能充電至異常高，然后以高能量在絕緣擊穿電壓處放電。
為模擬單次靜電放電（氣隙放電或接觸放電），在施加每個靜電放電脈沖之前應(yīng)消除受試設(shè)備上的電荷。
因受試設(shè)備和水平耦合板（臺式）之間以受試設(shè)備和接地參考平面（落地式）之間的電容取決于受試設(shè)備的尺寸。靜電放電試驗時，如果功能允許，應(yīng)安裝帶泄放電阻的電纜。放電電纜的一個電阻應(yīng)盡可能靠近受試設(shè)備的試驗點，更好小于20mm，第二個電阻應(yīng)靠近電纜的末端，臺式設(shè)備的電纜連接于水平耦合板上，對于立式設(shè)備的電纜連接于參考面上。
注意：帶泄放電阻電纜的存在會影響某些設(shè)備的試驗結(jié)果，有爭議時，若在連續(xù)放電之間電荷能有效的衰減，施加靜電放電脈沖時斷開電纜的試驗優(yōu)于連接上電纜的試驗。
以下選擇可作為替代方法：
連續(xù)放電的時間間隔應(yīng)長于受試設(shè)備的電荷自然衰減所需的時間
使用帶泄放電阻和碳纖刷的接地電纜（例如2×470KΩ）
1.10 靜電放電抗擾度實驗結(jié)果
試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降級進(jìn)行分類。相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或試驗的需求方確定，或由產(chǎn)品的制造商和購買雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類：
a) 在制造商、委托方或購買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常
b) 功能或性能暫時喪失或降低，但在騷擾停止后能自行恢復(fù)，不需要操作者干預(yù)；
c) 功能或性能暫時喪失或降低，但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù)；
d) 因設(shè)備硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。
由制造商提出的技術(shù)規(guī)范可以規(guī)定對受試設(shè)備產(chǎn)生的某些影響是不重要的，因而這些影響是可接受的。在沒有適用的通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)時，這種分類可以由負(fù)責(zé)相應(yīng)產(chǎn)品通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會制定用于作為明確性能判據(jù)的指南，或作為制造商和購買方雙方協(xié)商的性能判據(jù)的框架。
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