電子產(chǎn)品高溫試驗辦理要去符合哪些要求？眾所周知，在我們的日常生活中隨處可見電子產(chǎn)品，其應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣闊，因此所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣，因此對其進行電子產(chǎn)品高溫試驗和低溫試驗是必不可少的，我司檢測認證是具備CNAS和CMA資質(zhì)認可的第三方檢測機構(gòu)，下面為您講解電子產(chǎn)品高溫試驗的相關(guān)內(nèi)容。

　　試驗?zāi)康募皥?zhí)行標準

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　　用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

　　試驗標準

　　GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》；

　　IEC60068-2-2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》。

　　測試條件及注意事項

　　高溫試驗測試條件

　　高溫試驗的技術(shù)指標包括：溫度、時間、上升速率。

　　優(yōu)選常用溫度：200℃、175℃、155℃、125℃、100℃、85℃、70℃、55℃等；

　　優(yōu)選常用的試驗時間有：2h、16h、72h、96h等。

　　高溫應(yīng)力對產(chǎn)品的影響

　　當(dāng)討論產(chǎn)品壽命時，一般采用“θ℃規(guī)則”的表達方式。具體應(yīng)用時可以表達為“10℃規(guī)則”等，當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10℃時，產(chǎn)品壽命就會減少一半；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃時，產(chǎn)品壽命就會減少到四分之一。這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命（失效）的。

　　高溫對產(chǎn)品的影響：老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變型等。

　　開展高溫試驗的注意事項

　　1.產(chǎn)品壽命遵循＂10℃規(guī)則＂，因而高溫試驗作為最常用的試驗，用于元器件和整機的篩選、老化試驗、壽命試驗、加速壽命試驗、評價試驗、同時在失效分析的驗證上起重要作用。

　　2.高溫試驗需注意產(chǎn)品和元器件的更大耐受溫度極限；

　　3.樣品放入試驗箱內(nèi)為保持樣品的受熱均勻性，樣品距離箱壁的距離最少為5cm；

　　4.試驗結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。

　　電子產(chǎn)品高溫試驗報告辦理流程

　　1.業(yè)務(wù)咨詢：申請人提供產(chǎn)品資料、圖片及測試要求給我司；

　　2.工程報價：根據(jù)申請人提供的資料，工程師作出評估，確定測試項目，并向申請方口頭報價；

　　3.支付款項：收到樣品后向申請方發(fā)出書面報價，申請方根據(jù)書面報價安排付款；

　　4.提供資料：申請方接受口頭報價后，測試樣品提交到我司；

　　5.樣品測試：依照所適用的標準或客戶要求進行產(chǎn)品測試；

　　6.出具報告：測試完成實驗室出具測試報告，結(jié)案。

　　以上資料由環(huán)測威檢測整理發(fā)布，如有疑問或需檢測認證歡迎與環(huán)測威檢測直接溝通（4008-707-283）。深圳CTB檢測機構(gòu)擁有自建實驗室，為廣大客戶提供各行各業(yè)的檢測認證服務(wù)，深受廣大客戶信賴。